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                            新聞詳情
                        
          
                        
          
                            
          
    
          
    
          
        
          
    
          闡述環(huán)境試驗設(shè)備的檢測標準
          
    
          
        
          
            
          日期：2025-07-02 12:43
          
            
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            摘要：
        
          
    
          
    
          
        闡述環(huán)境試驗設(shè)備的檢測標準

          環(huán)境試驗設(shè)備有：可程式恒溫恒濕試驗機，高低溫試驗機，冷熱沖擊試驗機，鹽霧測試機，耐黃變試驗機，老化試驗機，淋雨試驗機，紫外線耐氣候試驗機，烤箱等。www.pgwnn.com

          一、 概況 
          環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法，隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展，環(huán)境試驗方法的日臻豐富，相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施，這就需要有質(zhì)量上乘，性能合格的試驗設(shè)備，而要達到這一要求，就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標準，以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標準。 
          二、 環(huán)境試驗設(shè)備標準 
          1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標準共有九項： 
          GB10586-89 濕熱試驗箱 技術(shù)條件 
          GB10587-89 鹽霧試驗箱 技術(shù)條件 
          GB10588-89 長霉試驗箱 技術(shù)條件 
          GB10589-89 低溫試驗箱 技術(shù)條件 
          GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 
          GB10591-89 高溫/低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 
          GB10592-89 高、低溫試驗箱 技術(shù)條件 
          GB11158-89 高溫試驗箱 技術(shù)條件 
          GB11159-89 低氣壓試驗箱 技術(shù)條件 
          2、設(shè)備標準中的共性問題 
          1)適用范圍 
          在上述的九項標準中都明確規(guī)定了本標準適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家，對該標準所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。 
          2)適應(yīng)性 
          按設(shè)備標準檢測合格的產(chǎn)品，其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標準中對試驗設(shè)備的要求，按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。 
          3)操作性 
          設(shè)備標準在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時，該類標準在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。 
          4)修訂設(shè)備標準的不足之處 
          九項設(shè)備標準起草于上世紀八十年代，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求，修訂設(shè)備標準是必須的。 
          3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項 
          1)對基本環(huán)境條件的要求，綜合在一起主要有下列幾項 
          A)溫度：15℃~35℃ 
          B)相對濕度：不大于85%RH 
          C)大氣壓強：86Kpa~106Kpa 
          D)熱輻射：無陽光起直射，無熱源直接輻射 
          E)氣流：無強烈氣流，需要時不可直接吹到箱體上 
          F)電磁場：無強烈電磁場 
          G)三廢：無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) 
          H)冷卻水源：水溫不大于30℃，水壓控制在0.1~0.3Mpa 
          I)加濕水源：電阻率不低于500Ωm 
          J)電源：220±22V 、380±38V、50±0.5Hz 
          2)負載要求： 
          A)負載品種：一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗除外) 
          B)負載條件： 
          -------負載總質(zhì)量：50~80Kg/m3 
          -------負載總體積：不大于工作室容積的1/5 
          -------阻擋主風道總面積：不大于主風道所處工作室截面積的1/3 
          -------鹽霧試驗設(shè)備：規(guī)格：50＊100＊(1~2)mm 
          -------種類：金屬 
          -------樣品數(shù)：160塊/m2(工作室水平面面積計) 
          三、 環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準(氣候試驗設(shè)備) 
          1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準共有六項： 
          GB/T5170.2----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 
          GB/T5170.5----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 
          GB/T5170.8----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 
          GB/T5170.9----1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備 
          GB/T5170.10---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備 
          GB/T5170.11---1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備 
          2、方法標準的幾個共同問題 
          1)標準適用范圍：在六項方法標準中明確規(guī)定了該類標準是環(huán)境試驗設(shè)備在進行周期檢定時檢定項目的確定，檢測儀器的選用，以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。 
          2)適應(yīng)性：按方法標準檢測合格的設(shè)備，可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境試驗。 
          3)操作性：本類標準在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多，試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。 
          3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點： 
          1)各分標準使用時應(yīng)與總則一起使用。 
          2)對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標準及總則一起使用 
          3)檢定條件：由總則規(guī)定，其內(nèi)容與設(shè)備標準相一致。 
          4)負載要求：由總則規(guī)定，其內(nèi)容按設(shè)備標準GB11158中規(guī)定保持一致。 
          四、設(shè)備標準與檢定方法標準差異辨析
          有三項要求(鹽霧試驗箱例外)
          按設(shè)備標準GB11158中的規(guī)定
          檢驗項目：對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進行綜合性能檢驗(包括標志、包裝、儲存)
          按試驗方法要求對試驗設(shè)備進行檢驗
          受檢對象：
          生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品，外形、結(jié)構(gòu)、標志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常
          檢驗類型：
          型式檢驗、出廠檢驗、仲裁檢周期檢驗
          檢驗結(jié)果分類：
          合格、不合格、批合格、批不合格
          合格、準用、停用
          結(jié)果處理：
          合格出廠、不合格不準出廠批不合格、逐臺檢驗質(zhì)量監(jiān)督檢驗，合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓
          合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
          準用—發(fā)準用證
          停用—發(fā)停用證
          五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標準與試驗方法標準的對應(yīng)選擇
          1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類，現(xiàn)行設(shè)備標準是一種產(chǎn)品標準對應(yīng)一類設(shè)備，可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標準。
          2、根據(jù)試驗方法要求，對設(shè)備進行周期檢定時，可選用一個或多個檢定方法標準對試驗設(shè)備進行檢定。
          3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標準
          GB2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A：低溫
          GB5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
          GB2423.電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B：高溫
          GB2423.22電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法
          GB2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca：恒定濕熱
          GB5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
          GB2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱
          GB2423.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱
          GB2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J：長霉
          GB2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka：鹽霧
          GB5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
          GB2423.18電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb：交變鹽霧
          GB2423.19電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗
          GB5170.11電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
          腐蝕氣體試驗設(shè)備
          GB2423.20電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kd：接觸點和連接件硫件氫試驗方法
          六、 進行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點
          1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
          2、注意受試品的體積、重量及擋風橫截對設(shè)備主性能的影響
          3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件
          4、適當選擇試驗的嚴酷度
          七、 結(jié)束語
          通過對環(huán)境試驗設(shè)備標準及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標準的初步分析，兩類標準各自有其獨立性，但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此，準確理解兩類標準的適用范圍，熟悉兩類標準技術(shù)內(nèi)容的根本差異，是我們準確貫徹、切實執(zhí)行兩類標準的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標準而共同努力。

          
    
          
    

          
    
          

          

                        
          
                    
          
                
          
            
          
        
          
    
          
                                            
          
                                        
          
                                    
          
                                
          
                            
          
                        
          
                    
          
                
          
                
            
          
		 		
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